Lehrgang EBSD
Electron Backscatter Diffraction (EBSD):
Die kristallographische Charakterisierung im REM
Inhalt
Die Beugung rückgestreuter Elektronen im
Rasterelektronenmikroskop
stellt nicht nur sehr spezifische Anforderungen an die Gerätetechnik,
sondern konfrontiert den Nutzer nicht selten mit Problemen, sobald sich
an einem gewohnten Messablauf etwas ändert. Das kann eine "unbekannte"
Phase sein, die analysiert werden soll, oder es müssen die
Messbedingungen neu überdacht werden, weil schlecht leitende Werkstoffe
untersucht werden sollen. Oft ist es aber einfach nur die Suche nach
dem Weg, wie nach der Messung das Ergebnis in eine der Fragestellung
gerecht werdenden Form gefunden und dann präsentiert werden kann.
In den Vorträgen sollen daher Grundlagen der Kristallbeschreibung,
die wichtigsten Darstellungswerkzeuge erläutert und in Schwerpunkten
die einzelnen Parameter und Einflussgrößen diskutiert werden. Ziel
ist es, dem Nutzer ein generelles Verständnis der ablaufenden Prozesse
zu vermitteln. Damit sollte er/sie in der Lage sein, besser auf
konkrete Probleme reagieren zu können und optimale Lösungswege zu finden.
In Demonstrationen und freien Übungen können ihre analytischen Fragen
und Probleme theoretisch und praktisch an den Geräten mit entsprechender
Software behandelt werden.
Programm
- Einführung kristallographischer Grundbegriffe:
Kristallgitter und Kristallstruktur, Definition von Ebenen und Richtungen im Kristallgitter bzw. deren Indizierung, Winkel zwischen Ebenen - Stereographische und gnomonische Projektion
- Kristallorientierung/Missorientierungs-Beschreibung: Orientierungsmatrix, Euler-Winkel, Drehachse/Drehwinkel, Rodrigues-Vektor, Quarternionen, Klassifizierung von Korngrenzen
- Einzelorientierung und kristallographische Textur:
Polfigur, inverse Polfigur, ODF, MODF, Kornstatistik, Orientierungsstereologie - Die (derzeitige) Interpretation von EBSD Pattern:
Entstehung, Informationsgehalt, Wege zur Intensität, Simulation, Arbeitsweise von BSE- und FSE-Detektor - Typische Messvorbereitung:
Probennahme, Präparationstechniken und Montage - Praktische Übungen am REM
- Orientierungs- bzw. Missorientierungsmessungen:
systembedingte Unterschiede in Messablauf und -vorbereitung - Experimentelle Einflussgrößen:
Topographie, Probenkippung, Beschleunigungsspannung, Bildverzeichnungen, Arbeitsabstand, Winkel- und Ortsauflösung, Aufladung, etc. - Softwarebedingte Einflussgrößen:
Integrationszeit versus Bildmittelung, Auflösung von Bild (Binning) und Houghraum, Untergrund, Indizierungsstrategie (z.B. Band-, Reflektoranzahl) - Typische Fehlerquellen:
Systemkalibrierung, absolute und relative Orientierung, pseudosymmetrische Phasen, Fehlinterpretation, Datenbereinigung - Methodenkopplung: EBSD – EDS – WDS etc.
Phasenseparation und -identifikation - EBSD-Anwendungen im Überblick:
typische Applikationen bis hin zu in-situ Experimente wie 3D-EBSD oder Hochtemperaturuntersuchungen bzw. Deformation im REM
Arbeitsunterlagen werden zur Verfügung gestellt. Über die Teilnahme an diesem Lehrgang wird eine Bescheinigung ausgestellt.
Zielgruppe
Wissenschaftliche und technische Mitarbeiter aus Industrie, Forschungseinrichtungen, Hochschulen oder Behörden, die ihre Kenntnisse und praktischen Erfahrungen über Anwendungen in allen Bereichen der kristallographischen Gefüge- und Phasencharakterisierung im REM auffrischen bzw. vertiefen und mehr über das derzeitige Leistungsspektrum der Methode erfahren wollen.
Lehrgangsleitung
Priv.- Doz. Dr. P. F. Schmidt
Termin
04.03. - 07.03.2025
Dienstag: 14:00 - 17:30 Uhr
Mittwoch und Donnerstag: 08:30 - 13:15 Uhr und 14:15 - 17:30 Uhr
Freitag: 08:30 - 13:00 Uhr
Veranstaltungsort
Fachhochschulzentrum FHZ
Corrensstraße 25
48149 Münster
Teilnahmegebühr
1.740,- EUR (mehrwertsteuerfrei) Die Teilnahmegebühr schließt ein: Lehrgangsunterlagen, Mittagessen, Pausengetränke, ein gemeinsames Abendessen
Veranstalter
Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gemeinnützige GmbH
Anmeldung
Bitte nutzen Sie für die Anmeldung folgendes Online-Formular:
Online-Anmeldung
Falls die Online-Anmeldung für Sie keine Option ist, melden Sie sich bitte per Mail oder Brief unter Angabe der Kursbezeichnung an:
- Priv.- Doz. Dr. P. F. Schmidt
- Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gGmbH
- Mendelstraße 11
- 48149 Münster
- Telefon: 0251 / 980-1271 oder 0251 / 980-1270
- Mobil: 0171 / 2609125 oder 0171 / 5634022
- Mail: info@akademie-elektronenmikroskopie.de
Datenschutzerklärung
gemäß EU-DSGVO
Bei der Anmeldung für die REM-Lehrgänge geben Sie bitte den Typ des REM und des EDX-Analysengerätes an, an dem Sie arbeiten oder arbeiten werden. Diese Angabe benötigen wir für die Einteilung in die Arbeitsgruppen.
Nähere Informationen zum Lehrgang (Bestätigung, genaue Ortsangabe und Rechnung) gehen Ihnen nach Ihrer Anmeldung zu.
Programmänderungen bleiben vorbehalten. Für Schäden oder Verluste im Zusammenhang mit der Lehrgangsabwicklung wird keine Haftung übernommen. Kommt der Lehrgang nicht zustande, wird die gezahlte Teilnahmegebühr erstattet, weitergehende Ansprüche sind ausgeschlossen.
Zimmerbestellung
Zimmerbestellungen bitten wir, direkt aufzugeben, zum Beispiel bei:
- Stadt Münster
- Münster Marketing
- 48127 Münster
- Tel.: 0251/492-2726
- Fax: 0251/492-7759
- Web: www.marketing.muenster.de
Eine Übersicht über in der Nähe gelegene Hotels, in denen Sie natürlich auch direkt ein Zimmer buchen können, finden Sie auf >> Google Maps
Verkehrsmittel in Münster
Sofern Sie nicht mit dem eigenen Fahrzeug unterwegs sind, haben Sie nach Ankunft in Münster folgende Möglichkeiten:
Auf den Seiten der Stadtwerke Münster können Sie sich über den Öffentlichen Nahverkehr informieren. Auf die entsprechende Seite gelangen Sie >> hier
Den Taxiruf erreichen Sie unter 0251/60011
Schließlich haben Sie natürlich die Möglichkeit, mit dem für die Stadt typischen Verkehrsmittel, dem Fahrrad, unterwegs zu sein. >> Hier gelangen Sie auf die Seiten der Radstation Münster, die Fahrräder zur Miete anbietet.
